耐候性および耐光性試験規格は通常、強度とそれが制御される波長（または波長範囲）の両方として放射照度レベルを指定します。蛍光UVおよびキセノンアーク耐候性試験機における放射照度は、狭帯域または広帯域設定値を用いて制御することができる。ＱＵＶ蛍光ＵＶテスターにおける狭帯域制御点の選択は、使用中のＵＶランプの種類によって決定される。 Q-SUNキセノンアーク耐候性試験機の場合、試験体が敏感な波長または波長領域を使用して制御することをお勧めします。ユーザーが主に色の変化に関心がある場合は、420 nmのコントロールポイントがよく使用されます。主な関心領域が他の種類の物理的特性の変化、例えば光沢損失である場合、３４０ｎｍの制御点がしばしば使用される。ワイドバンドＴＵＶ制御点（３００〜４００ｎｍ）は、その設定点として３００〜４００ｎｍの範囲にわたる全放射照度を使用するので、２つのナローバンド（３４０ｎｍおよび４２０ｎｍ）制御点間の妥協点として見なすことができる。キセノンアークテスターにおける光学フィルターの選択もまた、通常、この放射照度制御点の選択と平行する。通常、昼光用光学フィルターでテストするユーザーは340 nmのコントロールポイントを使用し、窓ガラス用光学フィルターを使用するユーザーは一般に420 nmのコントロールポイントを使用します。各ランプまたはフィルターの種類に使用可能で最も一般的な選択を表1に示します。